بلور فلورید کلسیم گرید فرابنفش
توضیحات
فهرست مطالب
Toggleبلور فلورید کلسیم گرید فرابنفش (UV Grade CaF₂)
معرفی محصول:
بلورهای گرید UV از مواد شیمیایی با خلوص فوقالعاده بالا (99.99%) سنتز شده و با روشهای رشد بلور پیشرفته تولید میشوند. این بلورها دارای ویژگیهای منحصر به فردی در محدوده فرابنفش هستند که آنها را به گزینهای ایدهآل برای کاربردهای تخصصی تبدیل میکند.
ویژگیهای کلیدی:
-
عبوردهی نوری عالی:
-
بیش از 95% در محدوده 250-400 نانومتر
-
بیش از 85% در 200 نانومتر
-
بیش از 60% در 180 نانومتر (برای نمونه 10 میلیمتری)
-
-
خواص مکانیکی و حرارتی:
-
سختی موس: 4
-
مقاومت در برابر شوک حرارتی: تا 300°C
-
ضریب انبساط حرارتی: 18.9×10⁻⁶/°C
-
کاربردهای اصلی:
-
تشخیص و تصویربرداری فرابنفش:
-
آشکارسازهای کور خورشیدی (Sun-blind detectors)
-
سیستمهای تصویربرداری UV
-
پنجرههای مشاهده در محیط خلأ
-
-
تجهیزات علمی و صنعتی:
-
طیفسنجهای فرابنفش
-
سیستمهای لیزری UV
-
اپتیک پرتوهای پرانرژی
-
مزایای رقابتی:
-
کیفیت نوری بینظیر در محدوده cut-off فرابنفش
-
تشعشع فلورسانس بسیار پایین
-
مقاومت شیمیایی عالی در محیطهای خورنده
-
پایداری حرارتی بالا
تواناییهای تولیدی شرکت:
-
محصولات نیمهساخته:
-
دایرهای (قطر تا 300mm)
-
مستطیلی (تا 400×400mm)
-
سوراخدار (با دقت ±0.05mm)
-
پنجرههای اپتیکی
-
-
محصولات نهایی:
-
لنزهای plano-convex/concave
-
منشورهای Cornu
-
قطعات گالوانومتر
-
اشکال سفارسی
-
تمامی محصولات با استانداردهای ISO 10110 و MIL-PRF-13830 مطابقت داشته و همراه با گواهینامه کیفیت ارائه میشوند. کیفیت سطحی تا λ/4 و پرداخت اپتیکی 20-10 برای کاربردهای پرتوان قابل ارائه است.
- معرفی محصولات

بلورهای فلورید کلسیم گرید فرابنفش (UV Grade CaF₂)
فرآیند تولید و ویژگیهای ساختاری:
بلورهای گرید UV از مواد اولیه با خلوص 99.99% به روش سنتز شیمیایی تولید شده و تحت فرآیندهای کنترلشده کریستالیزاسیون رشد مییابند. این فرآیند منجر به تشکیل ساختارهای بلوری با مشخصات زیر میگردد:
-
یکنواختی ساختاری (Δn ≤ 5×10⁻⁶)
-
پایداری حرارتی-مکانیکی عالی
-
شبکه بلوری FCC بدون نقصهای ماکروسکوپی
کاربردهای تخصصی در حوزه فرابنفش:
۱. سیستمهای تشخیصی:
-
آشکارسازهای Solar-blind (محدوده ۲۴۰-۲۸۰nm)
-
دوربینهای تصویربرداری UV با حساسیت بالا
۲. تجهیزات آزمایشگاهی:
-
پنجرههای اپتیکی برای محفظههای خلأ بالا
-
منشورها و عدسیهای طیفسنجهای UV-Vis
-
اجزای اپتیکی سیستمهای لیتوگرافی
تواناییهای تولیدی و خدمات فنی:
-
محصولات نیمهساخته:
-
شمشهای استوانهای (قطر ۵-۳۰۰mm)
-
بلوکهای مستطیلی (تا ۵۰۰×۵۰۰mm)
-
پیشفرمهای عدسی و منشور
-
-
محصولات نهایی:
-
پنجرههای اپتیکی با پرداخت λ/۴
-
عدسیهای آسفریک و آزیموتال
-
مجموعههای اپتیکی مونتاژ شده
-
-
خدمات اختصاصی:
-
پوششدهی ضد بازتاب (R<0.5% در محدوده UV)
-
برش و پرداخت سفارشی با تلرانس ±۰.۰۱mm
-
آنالیز QC شامل طیفسنجی UV-Vis و آزمون LIDT
-
پارامترهای تضمین کیفیت:
-
عبور نور: >90% @254nm (برای نمونه 10mm)
-
یکنواختی اپتیکی: <10ppm @633nm
-
مقاومت لیزر: >5J/cm² @266nm (100پالس)
-
گواهی آنالیز شیمیایی (مطابق ASTM E1479)
این محصولات با استانداردهای MIL-PRF-13830 و ISO 10110-3 کلاس 1 مطابقت داشته و برای کاربردهای حساس در صنایع دفاعی، تحقیقاتی و پزشکی مناسب میباشند.

تواناییهای تولیدی شرکت در زمینه بلورهای فلورید کلسیم گرید فرابنفش (UV-Grade CaF₂)
شرکت ما با بهرهگیری از فناوریهای پیشرفته، قادر به تأمین گستره وسیعی از محصولات نیمهساخته و نهایی از جنس بلور CaF₂ گرید UV میباشد:
محصولات نیمهساخته (بلنک):
-
اشکال هندسی استاندارد:
• استوانهای (قطر ۵-۳۰۰ میلیمتر، تلرانس ±۰.۰۵mm)
• مکعبی/مستطیلی (ابعاد تا ۵۰۰×۵۰۰mm با زاویهای ۹۰°±۰.۱°)
• نمونههای سوراخدار (دقت موقعیتیابی ±۰.۰۲mm) -
پیشفرمهای تخصصی:
• پنجرههای اپتیکی (ضخامت ۱-۵۰mm)
• پیشفرم عدسی (سطح کروی/آسفریک)
• قطعات گالوانومتر (پرداخت سطح λ/۲)
محصولات نهایی:
-
انواع عدسیها:
-
Plano- convex/concave (انحنای ۱۰-۱۰۰۰mm)
-
عدسیهای آسفریک (انحراف موج <λ/۴ @۶۳۲.۸nm)
-
-
اشکال سفارشی:
• هندسههای آزیموتال
• قطعات چندوجهی پیچیده
• مجموعههای مونتاژ شده
پارامترهای کیفی تضمینشده:
-
کیفیت سطح: ۶۰-۴۰ تا ۲۰-۱۰ (MIL-PRF-13830B)
-
دقت ابعادی: ±۰.۰۱mm برای ابعاد بحرانی
-
جهتگیری کریستالی: (۱۱۱) ±۰.۵°
-
آنالیز خلوص: گزارش عناصر تا سطح ppb
خدمات همراه:
-
مشاوره فنی رایگان برای انتخاب بهینه ماده
-
طراحی اپتیکی اختصاصی
-
تستهای عملکردی (LIDT، عبور سنجی UV)
-
گواهی کیفیت مطابق ISO 9001
ملاحظات فنی:
-
کلیه فرآیندهای پرداخت در محیط کنترلشده دمایی (۲۳±۰.۵°C) انجام میشود
-
امکان اعمال پوششهای ضد بازتاب (R<0.5% در محدوده UV) وجود دارد
-
محصولات نهایی با گاز خنثی بستهبندی میشوند
این محصولات در صنایع زیر کاربرد دارند:
-
سیستمهای لیتوگرافی نیمههادی
-
تجهیزات پزشکی لیزری
-
سنجش از دور و تصویربرداری فرابنفش
-
تحقیقات فیزیک پلاسما

کاربردهای بلور فلورید کلسیم (CaF₂) در اپتیک پیشرفته
ویژگیهای منحصر به فرد:
بلورهای CaF₂ به دلیل خواص استثنایی خود، مادهای کلیدی در کاربردهای اپتیکی از فرابنفش خلأ (VUV) تا فروسرخ میانی (MIR) محسوب میشوند:
-
ویژگیهای نوری:
-
ضریب عبور بسیار بالا (>95% در محدوده 200-800nm)
-
آستانه تحمل لیزر فوقالعاده (تا 15J/cm² در 193nm)
-
ضریب شکست پایین (1.39 در 632.8nm)
-
-
مزایای ساختاری:
-
ساختار بلوری مکعبی (Fm3̅m)
-
مقاومت تابشی تا 10⁶ راد
-
پایداری شیمیایی در محیطهای خورنده
-
کاربردهای تخصصی:
الف) در محدوده VUV (100-200nm):
-
پنجرههای لیزرهای اگزایمر (ArF، KrF)
-
سیستمهای لیتوگرافی نیمههادی
-
طیفسنجی پلاسمای گرم
ب) در محدوده UV-IR:
-
منشورهای طیفسنجی با پراکندگی پایین
-
جداکنندههای پرتو پرتوان
-
زیرلایههای اپتیکی با پایداری ابعادی
مزایای رقابتی نسبت به مواد مشابه:
-
هزینه تولید پایینتر نسبت به MgF₂ و LiF
-
پایداری حرارتی بهتر از SiO₂ (تا 800°C در محیط خشک)
-
مقاومت مکانیکی بالاتر از NaCl و KBr
پارامترهای کیفی محصولات:
-
خلوص شیمیایی: 99.99% (4N)
-
جهتگیری کریستالی: (111) ±0.5°
-
کیفیت سطح: λ/4 @632.8nm
-
یکنواختی نوری: Δn ≤ 5×10⁻⁶
ملاحظات طراحی:
-
برای کاربردهای VUV، پرداخت سطحی λ/10 توصیه میشود
-
در محیطهای مرطوب نیاز به پوشش محافظ دارد
-
جهت کاهش تنشهای داخلی، عملیات حرارتی پس از پرداخت ضروری است
این ماده به دلیل ترکیب بینظیر خواص نوری و مکانیکی، در بسیاری از سیستمهای اپتیکی پیشرفته جایگزینناپذیر است.

پوششهای اپتیکی و کاربردهای تخصصی
تعریف علمی پوششدهی اپتیکی:
پوششدهی به فرآیند اعمال لایههای نازک (Thin-film) از مواد دیالکتریک یا فلزی بر روی زیرلایههای اپتیکی اطلاق میشود که به دو روش اصلی انجام میپذیرد:
۱. روشهای فیزیکی (PVD):
-
تبخیر در خلا (Thermal Evaporation)
-
کندوپاش مغناطیسی (Magnetron Sputtering)
-
رسوبدهی پرتو الکترونی (E-beam Deposition)
۲. روشهای شیمیایی (CVD):
-
رسوبدهی شیمیایی بخار
-
رسوبدهی لایه اتمی (ALD)
اهداف فنی پوششدهی:
-
کنترل دقیق ضریب بازتاب سطح (۰٫۱% تا ۹۹٫۹%)
-
تنظیم ضریب عبور در محدودههای طیفی خاص
-
ایجاد ویژگیهای عملکردی شامل:
-
تفکیک پرتو با نسبتهای دقیق (R:T از ۱۰:۹۰ تا ۹۰:۱۰)
-
فیلتراسیون طیفی با پهنای باند ۰٫۱nm تا ۱۰۰nm
-
کنترل قطبش با دقت ±۰٫۱°
-
انواع پوششهای تخصصی قابل ارائه:
۱. لایههای ضد بازتاب (AR):
-
طراحی چندلایهای (۱۵-۳۰ لایه)
-
محدودههای کاری:
-
فرابنفش (۱۸۰-۴۰۰nm)
-
مرئی (۴۰۰-۷۰۰nm)
-
فروسرخ نزدیک (۷۰۰-۲۵۰۰nm)
-
فروسرخ میانی (۳-۸μm)
-
-
کاهش بازتاب به کمتر از ۰٫۵%
۲. لایههای بازتاببالا (HR):
-
بازتاب >۹۹٫۹% در طولموج طراحی
-
پایداری حرارتی تا ۵۰۰°C
-
مقاومت لیزر >۱۰J/cm²
۳. لایههای طیفی:
-
فیلترهای باند باریک (FWHM از ۰٫۱nm)
-
فیلترهای قطع بلندموج و کوتاهموج
-
جداکنندههای دیکرویک
۴. لایههای فلزی:
-
بر پایه Au، Ag و Al
-
ضخامت کنترلشده ۵۰-۲۰۰nm
پارامترهای کیفی:
-
کنترل ضخامت با دقت ±۰٫۱nm
-
چسبندگی مطابق استاندارد MIL-C-675C
-
مقاومت در برابر رطوبت (۹۵%RH، ۱۰۰۰h)
-
پایداری حرارتی (-۱۰۰°C تا +۳۰۰°C)
خدمات فنی همراه:
-
شبیهسازی طراحی با نرمافزارهای TFCalc و OptiLayer
-
آنالیز SEM و AFM برای بررسی مورفولوژی سطح
-
تستهای شتابدهی شده عمر کاری
-
گزارشدهی کامل مطابق ISO 9211
این پوششها در محیطهای تمیز کلاس ۱۰۰ (ISO 5) و با استفاده از سیستمهای کنترل پیشرفته تولید میشوند.
- اطلاعات فنی

دستهبندی و مشخصات فنی بلورهای فلورید کلسیم (CaF₂)
گرید VIR (مرئی-فروسرخ)
-
مشخصات فیزیکی:
-
ابعاد معمول: استوانهای با قطر ۸۰-۱۰۰mm و طول ۱۸۰mm
-
حداکثر سایز قابل تولید: قطر ۴۰۰mm با ضخامت ۶۰mm
-
-
ویژگیهای نوری:
-
محدوده کاربرد: ۴۰۰nm تا ۷.۶μm
-
عبور داخلی: >۹۹% (نمونه ۱۰mm)
-
-
پارامترهای کیفی:
-
دوگانگی تنش: ۱-۳۰nm/cm@۶۳۳nm
-
یکنواختی اپتیکی: ۳-۵۰ppm@۶۳۳nm
-
-
آزمون کنترل کیفیت:
-
تست نور سبز ۲۵-۱۲۵mW بدون ناخالصیهای بصری
-
گرید UR (فرابنفش)
-
ویژگیهای منحصر به فرد:
-
محدوده کاربرد: ۲۰۰-۴۰۰nm
-
عدم جذب در ۲۰۵nm
-
جذب کنترلشده در ۳۰۶nm (≤۰.۲%)
-
-
ساختار بلوری:
-
تککریستال با مجوز زیرساخت
-
-
پارامترهای دقیق:
-
یکنواختی بهبودیافته: ۳-۲۰ppm
-
گرید VUV (فرابنفش خلأ)
-
مشخصات کلیدی:
-
محدوده کاری: ۱۳۰-۲۰۰nm
-
عبور نور:
-
۵۰% @۱۳۰nm
-
۸۰% @۱۶۰nm
-
۸۵% @۲۰۰nm
-
-
-
کیفیت ساخت:
-
یکنواختی بالا: ۱-۱۵ppm
-
دوگانگی تنش: ۱-۲۰nm/cm
-
گرید IC Tool (ابزارهای نیمههادی)
-
طول موجهای هدف:
-
۱۵۷nm، ۱۹۳nm، ۲۴۸nm، ۳۵۵nm
-
-
عملکرد نوری:
-
عبور داخلی:
-
۹۹.۸% @۳۵۵nm/۲۴۸nm
-
۹۹.۷% @۱۹۳nm
-
۹۹.۴% @۱۵۷nm
-
-
-
مشخصات فنی:
-
عدم جذب در ۲۰۵nm و ۳۰۶nm
-
گرید IC Laser (لیزرهای نیمههادی)
-
مقاومت لیزر:
-
آستانه آسیب: ~۷J/cm² @۱۹۳nm
-
-
استانداردها:
-
مطابق با SEMI F47-0706
-
گرید Raman (طیفسنجی رامان)
-
ویژگیهای استثنایی:
-
محدوده کاری گسترده: ۱۳۰nm-۷.۶μm
-
عدم فلورسانس
-
عدم جذب در محدوده کاری
-
-
پارامترهای فنی:
-
دوگانگی تنش: ۲-۳۰nm/cm
-
تستهای مشترک تمامی گریدها:
-
آزمون نور سبز (۲۵-۱۲۵mW) برای بررسی ناخالصیهای بصری
-
کنترل کیفی با اسپکتروفتومتر UV-Vis-NIR
-
آنالیز XRD برای تأیید ساختار بلوری
کاربردهای تخصصی:
-
سیستمهای لیزری پیشرفته
-
طیفسنجی فرابنفش تا فروسرخ
-
تجهیزات نیمههادی
-
تحقیقات علمی و صنعتی
تمامی محصولات مطابق با استانداردهای ISO 10110 و MIL-PRF-13830 تولید میشوند.

آزمون عبور نور (Transmittance Test) – بلور فلورید کلسیم گرید IR
تجهیزات آزمایشگاهی:
-
اسپکتروفتومتر UV-Vis مدل [XXX] با مشخصات فنی:
-
دقت اندازهگیری: ±۰.۲% (مطابق استاندارد ASTM E275)
-
محدوده طول موج: ۱۹۰-۱۱۰۰nm
-
پهنای شکاف طیفی: ۲nm (قابل تنظیم)
-
ویژگیهای نمونههای آزمایشی:
-
جنس نمونه: بلور CaF₂ با گرید IR
-
مشخصات فیزیکی:
-
قطر: ≥۲۰mm (تلرانس ±۰.۱mm)
-
ضخامت: ≥۳mm (تلرانس ±۰.۰۵mm)
-
کیفیت سطح:
-
پرداخت اپتیکی ۸۰/۵۰ (مطابق MIL-PRF-13830B)
-
زبری سطح: ≤۵nm (اندازهگیری با AFM)
-
-
نتایج آزمون طیفسنجی:
۱. محدوده ۴۰۰nm به بالا:
-
ضریب عبور: ≥۹۳% (در نمونه ۳mm)
-
ضریب جذب: ≤۰.۵cm⁻¹
-
پراکندگی نور: ≤۰.۲%
۲. محدوده ۲۰۰-۴۰۰nm:
-
پیکهای جذب مشخصه:
-
۲۰۵nm (ناشی از نقصهای شبکه بلوری)
-
۳۰۶nm (مربوط به ناخالصیهای Rare Earth)
-
-
عمق پیک جذب: ≤۲% (نسبت به خط پایه)
شرایط آزمایش:
-
دمای محیط: ۲۳±۲°C
-
رطوبت نسبی: ۴۵±۵%
-
منبع نور: دوتریوم-هالوژن (پایداری ±۰.۳%)
-
کالیبراسیون: با استاندارد NIST قبل از هر آزمون
گواهی کیفیت:
-
کلیه نتایج مطابق با استاندارد ISO 9211-4 گزارش میشوند
-
گزارش کامل شامل:
-
منحنی عبور/جذب
-
آنالیز پیکهای جذب
-
نتایج آزمون پراکندگی نور
-
ملاحظات فنی:
۱. پیک جذب ۲۰۵nm ویژگی ذاتی بلورهای CaF₂ بوده و در کاربردهای IR تأثیری ندارد.
۲. کیفیت سطح ۸۰/۵۰ برای اکثر کاربردهای صنعتی کافی است.
۳. برای کاربردهای حساس، امکان پرداخت سطح تا λ/۱۰ وجود دارد.
کاربردهای نمونه:
-
پنجرههای اپتیکی سیستمهای IR
-
عدسیهای دستگاههای طیفسنجی
-
اجزای اپتیکی لیزرهای CO₂

بلورهای تککریستال (Monocrystalline) – ویژگیهای کیفی و بازرسی بصری
شرایط بازرسی:
-
روش نوردهی: نور طبیعی روز با شدت ۱۰۰۰۰-۲۰۰۰۰ لوکس
-
زاویه مشاهده: ۴۵±۵ درجه
-
فاصله بررسی: ۳۰±۲ سانتیمتر
-
مدت زمان بازرسی: ۳۰-۶۰ ثانیه
ویژگیهای سطحی:
-
عدم وجود مرز دانه (Grain Boundaries) در بزرگنمایی ۱۰X
-
عاری از نوارهای بیدمانند (Wicker-like Stripes)
-
یکنواختی سطحی: λ/۲ در ۶۳۲.۸ نانومتر
-
زبری سطح: ≤۱nm (اندازهگیری با AFM)
پارامترهای ساختاری:
۱. خلوص بلوری:
-
چگالی نابجاییها: ≤۱۰۰ cm⁻²
-
جهتگیری کریستالوگرافی: (۱۱۱) ±۰.۵°
۲. ویژگیهای نوری:
-
تغییر ضریب شکست: ≤۵×۱۰⁻⁶ در سطح نمونه
-
پراکندگی نور: ≤۰.۰۵% در ۶۳۲.۸ نانومتر
تاییدیههای فنی:
-
انطباق با استاندارد ASTM F47
-
مطابق با الزامات ISO 10110-3 کلاس ۱
-
گواهی کیفیت همراه هر محموله شامل:
-
آنالیز XRD
-
نتایج آزمون پراکندگی نور
-
نقشه تنش باقیمانده
-
ملاحظات کاربردی:
-
مناسب برای کاربردهای حساس اپتیکی با دقت λ/۱۰
-
کاربرد در سیستمهای لیزری پرتوان (تا ۱۰J/cm²)
-
استفاده در تجهیزات طیفسنجی با وضوح بالا
نکته فنی: این سطح از کیفیت معمولاً در بلورهای رشد یافته با روش چکرالسکی (Czochralski) با پارامترهای کنترلشده زیر حاصل میشود:
-
نرخ رشد: ۱-۲ mm/hour
-
گرادیان دمایی: ۲۰-۳۰°C/cm
-
چرخش بوته: ۱۰-۲۰ rpm
کاربردهای ویژه:
-
اپتیک لیزرهای اگزایمر
-
منشورهای طیفسنجی با پراکندگی پایین
-
پنجرههای محفظههای خلأ بالا

بلورهای زیرکریستال (Sub-crystal) – ویژگیهای کیفی و ساختاری
شرایط بازرسی بصری:
-
روش نوردهی: نور طبیعی روز با شدت ۸۰۰۰-۱۵۰۰۰ لوکس
-
زاویه مشاهده بهینه: ۳۰-۶۰ درجه
-
فاصله استاندارد بررسی: ۲۵-۴۰ سانتیمتر
-
مدت زمان بازرسی: ۳۰-۶۰ ثانیه
مشخصات نوارهای بیدمانند (Willow Stripes):
-
مساحت تحت پوشش: <۱۶.۷% از سطح مقطع (قطر انتهایی)
-
عرض نوارها: ۰.۱-۰.۵ میلیمتر
-
جهتگیری: موازی با صفحات کریستالوگرافی (۱۱۱)
-
چگالی نوارها: ۳-۸ خط بر سانتیمتر مربع
پارامترهای ساختاری:
۱. ویژگیهای بلوری:
-
چگالی نابجاییها: ۱۰³-۱۰⁴ cm⁻²
-
انحراف زاویهای: ≤۲° از جهت کریستالوگرافی اصلی
-
یکنواختی ساختاری: Δn ≤ ۱×۱۰⁻⁵
۲. پس از پرداخت نهایی:
-
کیفیت سطح: ۶۰/۴۰ مطابق MIL-PRF-13830B
-
زبری سطح: ≤۱۰nm (اندازهگیری با AFM)
-
حذف کامل نوارهای بصری
فرآیندهای تولید:
-
روش رشد: بریجمن-استوکبارگر (Bridgman-Stockbarger)
-
نرخ سردسازی: ۱۰-۵۰°C/ساعت
-
گرادیان دمایی: ۱۵-۲۵°C/cm
کاربردهای صنعتی مناسب:
-
قطعات اپتیکی با دقت متوسط (λ/۴ تا λ/۲)
-
سیستمهای تصویربرداری صنعتی
-
تجهیزات لیزری با توان متوسط (تا ۵J/cm²)
مدارک فنی همراه:
-
گواهی آنالیز XRD
-
نقشه تنش باقیمانده
-
گزارش کنترل کیفی نوری
-
انطباق با استاندارد ISO 10110-3 کلاس ۲
ملاحظات فنی:
۱. نوارهای بیدمانند ناشی از تغییرات موضعی در سرعت رشد بلور هستند
۲. این ویژگی تأثیری بر خواص نوری نهایی ندارد
۳. برای کاربردهای حساس، امکان پرداخت سطح تا λ/۱۰ وجود دارد
نکته: این نوع بلورها معمولاً در سیستمهای اپتیکی با تلرانس متوسط که نیاز به صرفهجویی اقتصادی دارند، استفاده میشوند.

بلورهای پلیکریستال (چندبلوری) – ویژگیهای ساختاری و بصری
مشخصات ظاهری تحت نور طبیعی روز:
۱. خطوط مرز بلور (Crystal Boundary Lines):
-
عمق نفوذ: کاملاً در سراسر ضخامت نمونه قابل ردیابی
-
وضوح مرزها: تفاوت کنتراست نور-سایه ≥۳۰% بین دو طرف مرز
-
الگوی تشکیل: شبکه نامنظم با زوایای ۱۵-۶۰ درجه
ویژگیهای کمی:
-
اندازه دانهها: ۵۰-۵۰۰ میکرومتر
-
چگالی مرزدانهها: ۱۰-۵۰ خط بر سانتیمتر مربع
-
اختلاف ضریب بازتاب بین دانهها: ۱۰-۲۵%
-
افزایش پراکندگی نور: ۲-۵% نسبت به تککریستال
پارامترهای فنی:
۱. ساختار بلوری:
-
سیستم کریستالی: مکعبی (Fm۳̅m)
-
اختلاف زاویهای بین دانهها: ≥۱۰°
-
چگالی نابجاییها: ۱۰⁴-۱۰⁵ cm⁻²
۲. ویژگیهای نوری:
-
کاهش عبور نور: ۵-۱۵% نسبت به تککریستال
-
افزایش پراکندگی: ۳-۸% در محدوده مرئی
کاربردهای صنعتی:
-
قطعات اپتیکی با تلرانس متوسط (λ/۲ تا λ)
-
پنجرههای محافظ در سیستمهای لیزری
-
تجهیزات طیفسنجی صنعتی
مزایا:
-
هزینه تولید پایینتر نسبت به تککریستال
-
مقاومت حرارتی تا ۲۰۰°C
-
زمان تولید کوتاهتر
محدودیتها:
-
مقاومت خمشی ۲۰-۳۰% کمتر از تککریستال
-
عدم مناسب بودن برای کاربردهای پرتوان لیزری
شرایط بازرسی:
-
شدت نور: ۵۰۰۰-۱۰۰۰۰ لوکس
-
زاویه مشاهده: ۴۵±۱۰ درجه
-
فاصله بررسی: ۳۰-۵۰ سانتیمتر
استانداردهای کیفیت:
-
مطابق با ISO 10110-3 کلاس ۳
-
انطباق با MIL-PRF-13830B برای پرداخت سطح
توجیه علمی پدیده مشاهده شده:
اختلاف کنتراست مرزدانهها ناشی از:
۱. تفاوت جهت کریستالوگرافی دانهها (Δθ ≥ ۱۰°)
۲. تغییر ضریب شکست موضعی (Δn ≈ ۰.۰۰۱-۰.۰۰۵)
۳. زبری متفاوت سطح در مرزدانهها
نکته فنی: این ساختار معمولاً در فرآیندهای رشد با نرخ سردسازی سریع (۱۰-۵۰°C/ساعت) تشکیل میشود و برای کاربردهای غیرحساس اپتیکی مناسب است.

●
مواد اپتیکی پیشرفته و کاربردهای تخصصی آنها
1. شیشه اپتیکی N-BK7
-
محدوده عبور: 350-2000 نانومتر (مرئی تا فروسرخ نزدیک)
-
ویژگیهای کلیدی:
-
ضریب شکست: 1.5168 در 587.6 نانومتر
-
عدد آب: 64.17
-
ضریب انبساط حرارتی: 7.1×10⁻⁶/°C
-
-
کاربردها: تلسکوپها، سیستمهای لیزری، منشورها
-
مزیت: مقرونبهصرفه برای کاربردهای مرئی و NIR
2. سیلیکای ذوبشده UV
-
محدوده عبور: 185-2100 نانومتر
-
ویژگیهای ممتاز:
-
ضریب انبساط حرارتی پایین (0.55×10⁻⁶/°C)
-
یکنواختی نوری عالی (Δn ≤ 2×10⁻⁶)
-
-
کاربردهای ویژه: لیزرهای پرتوان، سیستمهای لیتوگرافی
3. فلورید کلسیم (CaF₂)
-
ویژگیهای منحصر به فرد:
-
محدوده عبور گسترده (180nm-8μm)
-
ضریب شکست پایین (1.4 در 587nm)
-
مقاومت بالا در برابر لیزر (15J/cm² در 193nm)
-
-
کاربردهای اصلی: پنجرههای طیفسنجی، سیستمهای تصویربرداری حرارتی
4. فلورید باریم (BaF₂)
-
مشخصات فنی:
-
محدوده عبور: 200nm-11μm
-
مقاومت تابشی: تا 10⁶ راد
-
دمای کارکرد: 800°C (محیط خشک)
-
-
ملاحظات:
-
حساس به رطوبت (نیاز به محیط کنترلشده)
-
الزام استفاده از تجهیزات حفاظتی
-
5. فلورید منیزیم (MgF₂)
-
پارامترهای مکانیکی:
-
سختی موس: 415
-
مقاومت فشاری: 500MPa
-
-
کاربردهای ویژه: پوششهای ضد بازتاب، اپتیک UV عمیق
6. سلنید روی (ZnSe)
-
ویژگیهای نوری:
-
عبور >70% در 600nm-16μm
-
جذب پایین (0.001cm⁻¹ در 10.6μm)
-
-
ملاحظات نگهداری:
-
اجتناب از تماس با ابزارهای فلزی
-
استفاده از دستکش نرم
-
7. سیلیکون (Si)
-
ویژگیهای کلیدی:
-
چگالی پایین (2.33g/cm³)
-
سختی بالا (موس 1150)
-
-
محدودیت: جذب شدید در 9μm
8. ژرمانیوم (Ge)
-
مشخصات فنی:
-
ضریب شکست بالا (4 در 10μm)
-
حساسیت دمایی: -0.025%/°C
-
-
کاربردهای ویژه: سیستمهای FLIR، تصویربرداری حرارتی
9. ZnS CVD
-
ویژگیهای استثنایی:
-
پوشش طیفی کامل از مرئی تا مایکروویو
-
مقاومت مکانیکی عالی (موس 220)
-
-
کاربردهای پیشرفته: پنجرههای چندمنظوره، سیستمهای شناسایی هدف
نکات انتخاب ماده:
-
برای کاربردهای UV عمیق: CaF₂ یا MgF₂
-
محدوده IR میانی: ZnSe یا Ge
-
محیطهای خورنده: MgF₂ یا CVD ZnS
-
کاربردهای حساس به وزن: Si
تمامی مواد با استانداردهای ISO 10110 و MIL-PRF-13830 مطابقت دارند.

نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.