آنالیز XPS

جدول محتواها

طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس XPS ( X-ray photoelectron spectroscopy )

 

آنالیز XPS یا طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس یا XPS ( X-ray photoelectron spectroscopy ) یکی از آنالیزهایی می باشد که براساس برهمکنش بین پرتوی ایکس و نمونه شکل گرفته است،  XPS  یک آنالیز قدرتمند برای ارزیابی سطح نمونه به شمار می رود که اولین بار در سال ۱۸۸۷ توسط هرتزو بر مبنای اثر فوتوالکتریک بنا شد. آنالیزXPS ، در حقیقت یک تکنیک کمی ـ طیفی است که در آن نوع عناصر و ترکیب شیمیایی عناصر موجود در سطح نمونه تا عمق تقریبی ۱۰ نانومتر مشخص میگردد. یعنی اگر قرار باشد که بفهمیم سطح ماده مجهولی که در اختیار داریم از چه اتمهایی و با چه پیوندهایی تشکیل شده است از آنالیز XPS کمک می گیریم.  برای توضیح این آنالیز لازم است ابتدا به توضیح اثر فوتوالکتریک بپردازیم،    

اثر فوتوالکتریک:

پدیده ای کوانتومی است که در آن یک الکترون داخل اتم با دریافت انرژی یک فوتون ، از ماده جدا شده و در فضای اطراف ماده قرار می گیرد. یک پارامتر مهم در این اثر تابع کار ماده است که به زبان ساده حداقل انرژی مورد نیاز برای جدا کردن یک الکترون از ماده است، بدیهی است این انرژی مربوط به جداساختن الکترون در تراز فرمی است. همانطور که می دانیم تراز فرمی خارجی ترین ترازی است که توسط الکترون ها اشغال شده و الکترون های درون آن کمترین وابستگی را به هسته دارند و هر چه به تراز های داخلی تر برویم، برای خارج کردن الکترونها از ماده و یا اتم مادر به انرژی بیشتری احتیاج داریم. برای توضیح اثر فوتوالکتریک رابطه زیر مورد استفاده است: که در آن hν انرژی فوتون جذب شده،  انرژی پیوند الکترون یا انرژی مورد نیاز برای آوردن الکترون داخلی به سطح فرمی است، W همان تابع کار ماده و K انرژی جنبشی الکترون در هنگام خروج است. بدیهی است الکترون های مختلف انرژی های پیوند متفاوتی دارند. حال به توضیح آنالیز XPS باز می گردیم، در این آنالیز، پرتوی X به سطح نمونه تابیده می شود و سپس در نزدیکی سطح ماده در فاصله ۱ تا ۱۰ نانومتری الکترون های خروجی از ماده ردیابی می شوند و انرژی جنبشی آنها اندازه گیری می شود. با اندازه گیری تابع کار با توجه به پر انرژی ترین الکترون خروجی (که از سطح فرمی آمده) و با دانستن انرژی فوتون های پرتو X تابیده شده به نمونه و اندازه گیری انرژی جنبشی هر الکترون انرژی پیوند منحصر به فرد آن الکترون بدست می آید.
در طیف‌سنجی XPS ( X-ray photoelectron spectroscopy ) ، نموداری از تعداد الکترون‌های ردیابی شده بر واحد زمان (محور عرضی نمودار) بر حسب انرژی پیوندی الکترون‌ها (که با اندازه گیری انرژی جنبشی الکترونهای خارج شده از ماده و با کمک رابطه فوتوالکتریک) در ماده مورد آزمایش می‌باشد. هر عنصری در این نمودار، چند ماکزیمم منحصر به فرد به خود را دارد، که مشخصه آن عنصر می‌باشد. وجود ماکزیمم متعلق به هر عنصر در طیف بدست آمده از آنالیز یک ماده، گویای وجود آن عنصر در سطح ماده مورد آزمایش می‌باشد. ماکزیمم‌های مشخصه هر عنصر، با نحوه آرایش الکترون‌ها در اتم آن عنصر، مرتبط می‌باشد و می‌توان اطلاعاتی از موضع الکترون‌های ردیابی شده در لایه‌های الکترون بدست آورد. هر چه میزان انرژی جنبشی اندازه‌گیری شده یک الکترون بیشتر باشد، گویای این واقعیت خواهد بود که انرژی پیوند آن کمتر بوده، لذا به لایه‌های اربیتالی بیرونی تر تعلق داشته است؛ بنابراین، الکترون‌های لایه‌های داخلی،  انرژی جنبشی کمتری خواهند شد و ماکزیمم مشخصه آن‌ها در نمودار طیف‌سنجی، در سمت انرژی‌های بالای انرژی پیوندی خواهند بود. هر عنصر، دسته‌ای از ترازهای داخلی منحصر به فرد خود را دارد و انرژی پیوند این ترازها می‌تواند مثل اثر انگشتی برای شناسایی آن عنصر بکار رود.

تفاوت آنالیز XPS با آنالیز EDAX در چیست؟

میدانیم که در سطح آلمینیوم همیشه یک لایه نازک اکسید آلمینیوم وجود دارد. حال اگر با ( طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس ) XPS آنالیز کنیم، اطلاعاتی که از این آنالیز بدست می آوریم نشان دهنده اکسید آلمینیوم خالص است چون این آنالیز مخصوص بررسی سطح می باشد. اما اگر با EDAX آنالیز کنیم، اطلاعاتی که از این آنالیز حاصل می شود بیانگر آلمینیوم خالص می باشد، چونکه این آنالیز اطلاعات از حجم ماده به ما میدهد.  

20 فکر در مورد “آنالیز XPS

  1. هرمز بزرگی گفت:

    در مقاله‌ای که ارائه دادید، تفسیر دقیقی از کاربرد دستگاه XPS در آنالیز مواد به چشم می‌خورد. لطفاً مزایای این تکنیک نسبت به تکنیک‌های مشابه چگونه ارزیابی شده‌اند؟

  2. دریا دل کرمانی گفت:

    توضیحات کامل و جامعی در مورد اثر فوتوالکتریک داده‌اید. آیا دستگاه XPS محدودیت خاصی در تحلیل مواد با ساختارهای پیچیده دارد؟

  3. مارال حقانی گفت:

    آنالیز XPS چه نوع چالش‌هایی در تحلیل‌های روزمره ایجاد می‌کند؟ مکانیسم‌های پیشرفته برای بهبود دقت این تکنیک پیشنهاد شده‌اند؟

  4. مهربانو موسویان گفت:

    توضیحی که درباره‌ی نحوه عملکرد دستگاه XPS دادید بسیار آموزنده بود. آیا تحلیل‌های XPS محدود به نوع خاصی از مواد هستند یا می‌توانند بر روی هر ماده‌ای اعمال شوند؟

  5. اسلان نراقی گفت:

    با توجه به توضیحات درباره‌ی تفاوت آنالیز XPS با EDAX، می‌توان نتیجه گرفت که XPS برای شناخت ساختار سطحی ایده‌آل‌تر است؟ کدامیک برای تحلیل شیمیایی بهتر است؟

  6. کامران شبستری گفت:

    درک اثر فوتوالکتریک و ارتباط آن با دستگاه XPS توضیح داده شده، این تکنیک چقدر می‌تواند در تحقیقات نانومواد کاربردی باشد؟

  7. سارا آدینه گفت:

    توضیحات علمی بسیار جالب بود، آیا دستگاه XPS فقط برای تحلیل سطحی کاربرد دارد یا می‌توان از آن برای بررسی ساختارهای حجمی نیز استفاده کرد؟

  8. وفا صدیق گفت:

    آنالیز XPS چگونه می‌تواند اطلاعات دقیقی از توزیع شیمیایی سطح ماده به ما بدهد؟ این تکنیک با چه روش‌هایی ترکیب می‌شود تا دقت نتایج را افزایش دهد؟

  9. جهانبخت پناهی گفت:

    در آنالیز XPS، چگونه می‌توان عنصرهای نادر را شناسایی کرد؟ آیا نیاز به تجهیزات یا تنظیمات خاصی در دستگاه XPS وجود دارد؟

  10. آرمیلا طالقانی گفت:

    متن شما درباره‌ی کاربرد دستگاه XPS واضح و روان بود. آیا تکنیک دیگری با قابلیت‌های مشابه برای شناسایی سطح ماده‌ای که آنالیز XPS دارد وجود دارد؟

  11. مهیاز باستانی گفت:

    بسیار توضیحات جامعی بود. آیا دستگاه XPS امکان تحلیل نمونه‌های مایع را هم دارد یا تنها برای نمونه‌های جامد طراحی شده است؟ تشکر بابت اطلاعات مفید.

  12. رحیم قانعی گفت:

    با سپاس از محتوای کامل و علمی. آنالیز XPS چه محدودیت‌هایی در تحلیل ترکیب شیمیایی سطح نمونه‌ها دارد؟ آیا روش‌های تکمیلی برای بهبود نتایج وجود دارند؟

  13. مامک خراسانی گفت:

    خیلی ممنونم از توضیحات ارائه شده. با توجه به پیچیدگی دستگاه XPS، آیا امکان راه‌اندازی آن در آزمایشگاه‌های دانشگاهی کوچک وجود دارد؟

  14. معصومه محجوبی گفت:

    بسیار محتوای مفیدی است. آیا در دستگاه XPS می‌توان نوع پیوندهای شیمیایی بین اتم‌ها را نیز تحلیل کرد؟ این توانایی چقدر دقت و صحت دارد؟

  15. سامان بدخشانی گفت:

    من از این مطلب خیلی استفاده کردم. قیمت تقریبی دستگاه XPS چقدر است و آیا نگهداری آن هزینه‌بر است یا خیر؟

  16. تیرداد واعظی گفت:

    خیلی مطلب جالبی بود، ممنون. آنالیز XPS جزئیات عمقی بیشتری نسبت به EDAX دارد. چرا برخی مواقع همچنان EDAX ترجیح داده می‌شود؟

  17. مهدی روحانی گفت:

    خیلی توضیحات خوبی بود. برای استفاده از آنالیز XPS چه نوع آمادگی از نظر دستگاه و محیط آزمایشگاه نیاز است؟ ممنون از زحمات شما.

  18. طوبی کیان گفت:

    این مطلب را خواندم و مفید بود. آیا روش آنالیز XPS قابلیت تشخیص تمام عناصر سبک و سنگین را دارد یا محدودیت‌هایی وجود دارد؟

  19. یوسف حقانی گفت:

    مطالب علمی خوبی بود. آیا تنظیمات دستگاه XPS نیاز به تخصص بالا دارد یا فردی با آموزش‌های اولیه نیز می‌تواند کارکند؟

  20. نیکی نیلوفری گفت:

    با تشکر از مطالب آموزشی، آیا در دستگاه XPS امکان تعیین ضخامت لایه‌های مختلف بر روی سطح نمونه‌ها وجود دارد؟ این اطلاعات چقدر قابل اعتماد است؟

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *